奔創(chuàng)3D AOI光學(xué)檢測(cè)儀是一種高科技檢測(cè)設(shè)備，通過(guò)光學(xué)方式形成圖像，然后在通過(guò)對(duì)圖像進(jìn)行處理然后判斷元器件上的百種不良，有很強(qiáng)的功能。

首先，3D AOI光學(xué)檢測(cè)儀具有較高的檢測(cè)精度。它可以通過(guò)高清晰度的全景相機(jī)和gao速、高精度的三維成像技術(shù)，對(duì)電子元器件進(jìn)行整體而嚴(yán)密的檢測(cè)，確保其工作狀態(tài)完好無(wú)損。

其次，3D AOI光學(xué)檢測(cè)儀還具有極高的檢測(cè)速度。它可以在短時(shí)間內(nèi)完成對(duì)整個(gè)電子元器件的雙面檢測(cè)，大幅度增長(zhǎng)了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

此外，3D AOI光學(xué)檢測(cè)儀還提供了多種方便實(shí)用的功能。例如，它可以自動(dòng)識(shí)別和分類不同類型的元器件，自動(dòng)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)和缺陷圖像，將檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)反饋給生產(chǎn)線的工作人員，從而實(shí)現(xiàn)及時(shí)、準(zhǔn)確的反饋和調(diào)整。

那3D AOI具體檢測(cè)那些問(wèn)題呢？主要檢測(cè)元器件的破損、虛焊、側(cè)立、翻件、錯(cuò)件、空悍、溢膠、偏移、少錫、短路、污染、缺件、歪斜、立碑、浮高、極度性、錫洞、引腳未出等各種不良品。

總的來(lái)說(shuō)，3D AOI光學(xué)檢測(cè)儀主要是針對(duì)電路板上不良缺陷作全面的檢查，為了保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率，它是SMT設(shè)備生產(chǎn)過(guò)程中不可缺的重要設(shè)備之一。